신뢰성 관리 내역

· SEM

· EDS

· Parameter Analyzer

· EMMI : InGaAs, CCD, InSb

 

SMT 분석 사례 (SMT analysis service)

PCB 분석 사례 (PCB analysis servi

 

 

Parameter Consumer Industrial Automotive

사용 온도 0 ℃ ~ 40 ℃ -10 ℃ ~ 70 ℃ -40 ℃ ~ 150 ℃

수명 시간 1 ~ 3년 5 ~ 10년 15년 이상

허용 불량률 3 % << 1 % Zero

공급 기간 2년 이상 5년 이상 30년 이상

 

수명 시험

초기 수명 불량률 시험 (ELFR)

고온 동작 수명 시험 (HTOL)

저온 동작 수명 시험 (LTOL)

비휘발성 메모리 신뢰성 시험 (Endurance & Retention Test)

 

환경 시험

온도, 습도,

전압 시험 (THB)

온도 사이클 시험 (TC)

전압, 온도 사이클 시험 (PTC)

열충격 시험 (TS)

고압, 고습 시험 (PCT)

초가속 온도, 습도 스트레스 시험(HAST)

고온저장시험 / 저온저장시험 (HTS, LTS)

수분 내성 분류 시험 (MSL)

SMD 전처리 (Precondition)

염수 분무 시험 (SA)

 

Mechanical 시험

Mechanical Shock 시험

Board Drop 시험

Vibration 시험

Bending 시험

Torque 시험 초가속 수명 시험 (HALT)

 

정전기 시험

Human Body Model (HBM)

Machine Model (MM)

Charged Device Model (CDM)

Latch-up Test